介紹徠卡正置顯微鏡的角度測量法

　　徠卡正置顯微鏡采用了反射和透射兩種照明形式，并配有偏光裝置。在反射光照明下可進(jìn)行明暗場(chǎng)和偏光觀(guān)察，又可在透射光照明下作明場(chǎng)觀(guān)察，可選配攝影裝置與顯微鏡相連接拍攝照片等。

　　角度測量法是常用的方法，是顯微鏡技術(shù)較為復雜的技術(shù)手段。如果一個(gè)晶體的被測角的每邊條線(xiàn)的兩端均在一個(gè)平面上時(shí)，還可以取得較為準確的數值。但是在徠卡正置顯微鏡的物質(zhì)世界并非都是如此簡(jiǎn)單，往往被測角的兩邊直線(xiàn)中的一條直線(xiàn)持有一定的傾斜度。這種情況下只有用微分學(xué)方法演算，才能得到近似正確的數據。我們用徠卡顯微鏡直觀(guān)地進(jìn)行測量時(shí)，只靠測角目鏡或旋轉載物臺來(lái)取得數據。目鏡內有十字劃線(xiàn)，如果目鏡內有十字形測微尺就更好。具體測角時(shí)先把十字劃線(xiàn)的X或Y對準被測角的一邊直線(xiàn)。記錄刻度的數字，轉動(dòng)目鏡或轉動(dòng)標本，再將另一條邊線(xiàn)對準十字劃線(xiàn)的同一軸，記錄刻度數字，這樣可以求得被測角度。

　　徠卡正置顯微鏡可供工廠(chǎng)、高等院校、科研機構及電子工業(yè)部門(mén)作金相、礦相、晶體、微電子等方面的試驗與分析研究之用。