光學(xué)顯微鏡在地質(zhì)分析中的應用

光學(xué)顯微鏡在地質(zhì)分析已成為常規研究技術(shù)之一，其優(yōu)勢首先在于光學(xué)檢測的無(wú)損性，對樣品的分析提供安全保障；其次是大距離景深，可以更清晰的觀(guān)測微區形貌；第三是微區形貌的3D建模和測量功能，可對微區物理結構特征進(jìn)行量化表征。

偏光顯微鏡的作用及基礎認識

1、單偏光下的晶體特性

• 礦物突起

• 礦物糙面

• 礦物形態(tài)

• 解理

• 礦物顏色

• 晶體的多色性與吸收性

2、正交偏光下的晶體特性

• 礦物雙晶的觀(guān)察

• 礦片消光類(lèi)型及消光角的測定

• 干涉色

• 礦物延性符號的測定

3、錐光鏡下的晶體特性

• 確定一軸晶還是二軸晶

• 測定光性符號

• 測量光軸角的大小

部分巖石樣品成像效果

云母類(lèi)相關(guān)樣品顯微鏡下成像效果

偏光顯微鏡也有許多配置可供選擇，比如：顯微鏡熱臺、陰極發(fā)光儀、分光光度計等多樣化應用配置需求，滿(mǎn)足不同類(lèi)型研究者的需求