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    我國成功研發(fā)激光干涉測量?jì)x器

    點(diǎn)擊次數:2398 更新時(shí)間:2019-06-11

      【化工儀器網(wǎng) 行業(yè)動(dòng)態(tài)】激光干涉測量指以激光為光源,以激光波長(cháng)或激光頻率為基準,利用光的干涉原理進(jìn)行精密測量的方法,具有非接觸測量、靈敏度高和度高的優(yōu)點(diǎn)。激光干涉測量?jì)x器一般用于位移、長(cháng)度、角度、面基、介質(zhì)折射率的變化等方面的測量,常用的干涉儀有邁克爾遜干涉儀、馬赫-澤德干涉儀、菲索干涉儀、泰曼-格林干涉儀等   激光干涉測量是實(shí)現超精密測控和微納尺度測量的有效手段之一,在許多領(lǐng)域都有極其重要的作用。近日,在國家重大科技專(zhuān)項“極大規模集成電路制造裝備及成套工藝”等項目支持下,清華大學(xué)長(cháng)聘教授、精密儀器系學(xué)術(shù)委員會(huì )主任李巖研究團隊完成的“高測速多軸高分辨率激光干涉測量技術(shù)與儀器”項目,突破一系列關(guān)鍵技術(shù)瓶頸,形成了測量新方法、系統及儀器。   據李主任介紹,項目實(shí)現了從干涉儀組件、信號探測解調到多自由度探測方案設計的全鏈條自研開(kāi)發(fā)的高測速、多軸大量程、高分辨率激光干涉測量系統。目前,該項目團隊所研發(fā)的光刻機用雙頻激光干涉儀系統已經(jīng)應用到了我國自研光刻機工件臺樣機研發(fā)過(guò)程中,累計應用50余臺套。該研究成果滿(mǎn)足了光刻機雙工件臺樣機的精密測量需求,減輕了對國外干涉儀的依賴(lài),降低了其產(chǎn)品對我國出口限制所造成的研發(fā)風(fēng)險,對保障我國光刻機雙工件臺研發(fā)的順利實(shí)施起到了積極作用。   此外,項目開(kāi)發(fā)的亞納米分辨率可溯源外差干涉儀,也應用到了激光多維測量系統研究與開(kāi)發(fā)的比對檢定研究中。亞納米分辨率可溯源外差干涉儀能夠找出了激光多維測量系統非線(xiàn)性誤差原因,并用專(zhuān)門(mén)的電路加以校正,提高了相關(guān)單位激光多維測量系統的性能。開(kāi)發(fā)團隊所提出的可溯源干涉測量新方法,為摩爾單位采用阿伏伽德羅常數重新定義作出了貢獻。   值得一提的還有,在過(guò)去,我國沒(méi)有掌握研發(fā)激光干涉測量?jì)x器的核心技術(shù),但該項目的成功一舉打破了外國對我國激光干涉測量?jì)x器的限制和壟斷,豐富了我國激光干涉測量理論與技術(shù),這意味著(zhù)往后我國裝備和儀器的研發(fā)將擁有性能穩定且不受制于外國的測量及溯源能力??偠灾?,該研究成果具有非常重要的技術(shù)、經(jīng)濟和社會(huì )效益。   激光干涉測量技術(shù)是保障可溯源納米測量的重要途徑,也是推動(dòng)我國邁向計量強國、制造強國的關(guān)鍵計量測試技術(shù)。相信隨著(zhù)研發(fā)團隊的繼續深入研究,我國的激光干涉測量技術(shù)還會(huì )不斷進(jìn)步,為我國帶來(lái)更多的效益。
     

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