微區X射線(xiàn)熒光光譜儀Atlas

微區X射線(xiàn)熒光光譜儀Atlas

微區X射線(xiàn)熒光分析儀Atlas，作為一款能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀（EDXRF），Atlas的空間分辨率、操作自動(dòng)化，束斑尺寸等諸多性能指標表現優(yōu)異，目前Atlas有兩個(gè)型號M和X（尺寸更大）。

微區X射線(xiàn)熒光光譜儀Atlas

主要技術(shù)參數

電路板的X射線(xiàn)面分布圖，（Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn）

介紹：　　IXRF專(zhuān)注于精確地微區痕量元素分析產(chǎn)品，包括齊全的能譜儀（EDS）和X射線(xiàn)熒光（XRF）。     
　　在硬件方面，作為一款臺式XRF，Atlas-M型號的體積為890×560×560mm，具有較大的樣品倉體積，相對應的是較大的樣品臺行程以及最重的載重量，而與此同時(shí)，卻可以將樣品臺的移動(dòng)速度提升到300mm/s，移動(dòng)精度≤1μm。      其采用的毛細管聚焦技術(shù)，可將束斑縮至5μm，另外也可通過(guò)選用準直器等配件，使束斑在5μm—1000μm之間的范圍內可調；其多大8片的濾波片選擇，可滿(mǎn)足更多的分析需求。　　在軟件方面，作為曾因其軟件研發(fā)能力而獲得英國政府頒發(fā)的千禧年大獎的公司，IXRF在A(yíng)tlas操作軟件的開(kāi)發(fā)上沿襲了其一貫的專(zhuān)業(yè)性及開(kāi)放性。在數據的獲取及處理上，可實(shí)現數據的一鍵采集，或自動(dòng)或手動(dòng)的鑒別樣品成分，并利用FP建?；騫uantitative  match等功能實(shí)現樣品成分的定量分析；在圖像處理方面，不僅可對獲取的圖像進(jìn)行拼接，還可實(shí)現相分析、特征顆粒篩選、特征顆粒形態(tài)學(xué)上的測量及成分分析等功能；在面分布及線(xiàn)掃描方面，可同時(shí)獲得多達35種元素的信息，并且實(shí)現單像素的譜圖數據采集，并可保存下來(lái)，后續仍可繼續對此數據進(jìn)行點(diǎn)線(xiàn)面等處理。　　在應用方面，可在各種環(huán)境，如大氣、真空以及氦氣等氣氛下分析多種類(lèi)的樣品，無(wú)論是固體、液體、顆粒、粉末，樣品大小，拋光與否，表面粗糙與否皆可輕松勝任，且實(shí)現無(wú)損分析。      鑒于A(yíng)tlas的突出的性能特點(diǎn)，其被廣泛的應用到地礦文博、電子器件、環(huán)境監測、刑偵醫學(xué)、醫藥檢測等方面。

Atlas-M型號技術(shù)參數

特點(diǎn)：

1、 束斑尺寸最小可達5μm；

2、 大樣品臺行程（320×320×120mm），移動(dòng)速度可達300mm/s；

3、 多達8片的濾波片選擇；

應用領(lǐng)域：

1、 地礦文博；

2、 電子器件；

3、 刑偵醫學(xué)；

4、 醫藥檢測；

     5、 環(huán)境監測。